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        高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

        簡要描述:Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
        Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
        此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

        • 產品型號:ZetaAPS型
        • 廠商性質:經銷商
        • 更新時間:2021-08-19
        • 訪  問  量:760

        詳細介紹

        品牌其他品牌價格區間面議
        產地類別進口應用領域醫療衛生,化工,石油,制藥

        Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

        典型應用:

        綜合穩定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環境保護禪選法礦物富集,食品工業,乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

        主要特點:

        1)能分析多種分散物的混合體;

        2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;

        3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

        4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

        5)可精確測量無水體系;

        6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;

        7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;

        8)具有自動電位滴定功能;

        優于光學方法的技術優勢:

        1)被測樣品無需稀釋;

        2)排除雜質及對樣品污染的干擾;

        3)不需定標;

        4)能分析多種分散物的混合體;

        5)高精度;

        6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

        Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

        優于electroactics方法的技術優勢:

        1)無需定標;

        2)能測更寬的粒徑范圍;

        3)無需依賴Double Layer模式

        4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

        5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

        6)可適用于無水體系;

        7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

        優于微電泳方法的技術優勢:

        1)無需稀釋,固合量高達60%;

        2)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

        3)高精度(±0.1mv);

        4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

        5)electrosmotic flow不影響測量;

        6)對流(convection)不影響測量;

        7)可精確測量無水體系;

        技術參數:

        1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

        2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

        3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

        4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

        5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);

        6)樣品體積:30-230ml;

        7)PH范圍:0~14;

        8)電導率范圍:0~10 s/m

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