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        APS-100高濃度納米粒度儀

        簡要描述:APS-100高濃度納米粒度儀,APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

        • 產品型號:APS-100型
        • 廠商性質:經銷商
        • 更新時間:2020-04-01
        • 訪  問  量:660

        詳細介紹

        品牌其他品牌測量時間1-10min秒
        分辨率大于0.1nm 微米測量范圍5nm-100μ 微米
        重現性 <1%分散方式濕法分散
        價格區間100萬-150萬儀器種類動態光散射
        產地類別進口應用領域醫療衛生,食品,生物產業,石油,制藥

        APS-100高濃度納米粒度儀

        原理簡介:

        APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

        當聲音穿越泥漿或膠體時,是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質媒介,APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題,因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

        APS取樣分析是快速和容易的,無需稀釋樣品。稀釋樣品費時,容易出錯,并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒,或者連續泵送樣品進入到APS的樣品室,APS的直觀的軟件在幾分鐘內做玩余下的工作。

        計算詳細PSD數據的技術,不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器,例如光散射,意味著軟件或操作者假設或猜測PSD是單峰、雙峰、對數正態或高斯分布的。這種假設可能導致數據不可靠。

        專門的APS硬件設計簡化了操作,同時減少維護。這個設計適合研發以及重復質量控制測量。APS也適合過程在線操作。

        APS-100高濃度納米粒度儀

        主要用途:

        1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿;

        2)陶瓷;

        3)油墨;

        4)乳劑穩定性;

        5)藥品;

        6)生物膠體;

        7)熒光粉;

        8)有機和無機顏料如Ti02和炭黑;

        9)催化劑;

        10)礦物;

        11)聚合物乳液;

        12)水和非水分散體系;

        技術參數:

        1)完整的粒度分布,而不是簡單的平均值和標準偏差大小的數據;

        2)不需要稀釋樣品;

        3)不需要假設PSD形狀;

        4)粒度范圍:0.005-100微米;

        5)無電解質干涉;

        6)可測量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品;

        7)可測量縱向粘度,%固體,PH值,電導率,溫度,聲衰減和聲速度譜;

        8)具有自動滴定選項;

        9)專門技術:1-100MHz聲衰減譜;

        10)溶劑:水/非水;

        11)樣品固體%:0.1-60%體積比;

        12)樣品體積:標準是120ml,50ml小體積可用;

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